Исследовательский вертикальный металлургический микроскоп BS-6025TRF
БС-6025ТРФ
Введение
Вертикальные металлургические микроскопы серии BS-6025 были разработаны для исследований и имеют новаторский дизайн по внешнему виду и функциям, с широким полем зрения, высокой четкостью и полуапохроматическими металлургическими объективами со светлым/темным полем и эргономичной операционной системой. обеспечить идеальное исследовательское решение и разработать новую модель промышленной области. Объективы могут управляться электроприводом с помощью кнопок на передней панели микроскопа, интенсивность освещения будет меняться после смены объектива.
Функции
1. Отличная бесконечная оптическая система.
Благодаря превосходной бесконечной оптической системе вертикальный металлургический микроскоп серии BS-6025 обеспечивает изображения с высоким разрешением, высокой четкостью и исправленными хроматическими аберрациями, которые могут очень хорошо отображать детали вашего образца.
2. Модульный дизайн.
Микроскопы серии BS-6025 разработаны с использованием модульной конструкции для решения различных задач в области промышленности и материаловедения. Это дает пользователям гибкость в построении системы для конкретных нужд.
3. Удобное управление.
(1) Моторизованный переключатель объектива и функция ECO.
Цели можно было переключать простым нажатием вращающихся кнопок. Пользователи также могут самостоятельно определить две наиболее часто используемые цели и переключаться между этими двумя целями, нажимая зеленую кнопку. Интенсивность света будет автоматически регулироваться после изменения цели.
Свет микроскопа выключится автоматически через 15 минут после ухода оператора. Это не только экономит энергию, но и продлевает срок службы лампы.
(2) Кнопки быстрого доступа.
С помощью этой кнопки быстрого доступа пользователь может быстро переключать две предварительно установленные цели. Эта кнопка быстрого доступа также может быть назначена пользователями для других функций.
4. Удобный и простой в использовании.
(1) NIS45 Бесконечный план Полу-APO и цели APO.
Благодаря высокопрозрачному стеклу и передовой технологии покрытия объектив NIS45 может обеспечивать изображения с высоким разрешением и точно воспроизводить естественный цвет образцов. Для специальных применений доступны различные объективы, в том числе поляризационные и с большим рабочим расстоянием.
(2) Номарский ДИК.
Благодаря недавно разработанному модулю DIC разница высот образца, которую невозможно обнаружить с помощью светлого поля, становится рельефным или трехмерным изображением. Он идеально подходит для наблюдения за проводящими частицами ЖК-дисплея, царапинами на поверхности жесткого диска и т. д.
(3) Система фокусировки.
Чтобы сделать систему подходящей для рабочих привычек операторов, ручку фокусировки и предметного столика можно отрегулировать влево или вправо. Такая конструкция делает работу более комфортной.
(4) Эргономичная наклонная тринокулярная насадка.
Окулярная трубка может регулироваться от 0° до 35°.,Тринокулярный тубус можно подключить к зеркальной камере и цифровой камере, имеющей 3-позиционный светоделитель (0:100).,100:0, 80:20)Разделительная планка может быть собрана с любой стороны в соответствии с требованиями пользователя.
5. Различные методы наблюдения.
Даркфилд (Вафля)
Темное поле позволяет наблюдать рассеянный или дифрагированный свет от образца. Все, что не плоское, отражает этот свет, а все, что плоское, кажется темным, поэтому недостатки четко выделяются. Пользователь может определить наличие даже малейшей царапины или дефекта размером до 8 нм, что меньше предела разрешающей способности оптического микроскопа. Darkfield идеально подходит для обнаружения мельчайших царапин или дефектов на образце и исследования образцов с зеркальной поверхностью, включая пластины.
Дифференциальный интерференционный контраст (проводящие частицы)
ДИК – это метод микроскопического наблюдения, при котором разница высот образца, не обнаруживаемая в светлом поле, превращается в рельефное или трехмерное изображение с улучшенным контрастом. В этом методе используется поляризованный свет, и его можно настроить с помощью трех специально разработанных призм. Он идеально подходит для исследования образцов с очень незначительной разницей по высоте, включая металлургические структуры, минералы, магнитные головки, жесткие диски и полированные поверхности пластин.
Наблюдение в проходящем свете (ЖК-дисплей)
Для прозрачных образцов, таких как ЖК-дисплеи, пластмассы и стеклянные материалы, наблюдение в проходящем свете доступно с использованием различных конденсаторов. Исследование образцов в проходящем яркопольном и поляризованном свете можно выполнить в одной удобной системе.
Поляризованный свет (асбест)
В этом методе микроскопического наблюдения используется поляризованный свет, генерируемый набором фильтров (анализатор и поляризатор). Характеристики образца напрямую влияют на интенсивность света, отраженного через систему. Он подходит для металлургических структур (например, структуры роста графита на чугуне с шаровидным графитом), минералов, ЖК-дисплеев и полупроводниковых материалов.
Приложение
Микроскопы серии BS-6025 широко используются в институтах и лабораториях для наблюдения и определения структуры различных металлов и сплавов, а также в электронной, химической и полупроводниковой промышленности, такой как пластины, керамика, интегральные схемы, электронные чипы, печатные изделия. печатные платы, ЖК-панели, пленка, порошок, тонер, проволока, волокна, гальванические покрытия, другие неметаллические материалы и так далее.
Спецификация
| Элемент | Спецификация | БС-6025РФ | БС-6025ТРФ | |
| Оптическая система | NIS45 Оптическая система с бесконечной цветокоррекцией (TУбедлина: 180 мм) | ● | ● | |
| Просмотр головы | Эргономичная наклонная тринокулярная насадка, регулируемый угол наклона 0–35°, межзрачковое расстояние 47–78 мм; коэффициент разделения Окуляр: Тринокуляр = 100:0 или 20:80 или 0:100 | ● | ● | |
| Тринокулярная головка Зейдентопфа, наклон 30°, межзрачковое расстояние: 47–78 мм; коэффициент разделения Окуляр: Тринокуляр = 100:0 или 20:80 или 0:100 | ○ | ○ | ||
| Бинокулярная насадка Зейдентопфа, наклон 30°, межзрачковое расстояние: 47–78 мм. | ○ | ○ | ||
| Окуляр | Окуляр со сверхшироким полем обзора SW10X/25 мм, регулировка диоптрий | ● | ● | |
| Окуляр со сверхшироким полем обзора SW10X/22 мм, регулировка диоптрий | ○ | ○ | ||
| Окуляр с очень широким полем обзора EW12,5X/16 мм, регулировка диоптрий | ○ | ○ | ||
| Широкоугольный окуляр WF15X/16 мм, регулировка диоптрий. | ○ | ○ | ||
| Широкоугольный окуляр WF20X/12 мм, регулировка диоптрий | ○ | ○ | ||
| Цель | NIS45 План бесконечного LWD, цель Semi-APO (BF и DF) | 5X/NA=0,15, ШД=20 мм | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, ШД=11 мм | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, ШД=3,0 мм | ● | ● | ||
| NIS45 План бесконечного LWD, цель APO (BF и DF) | 50X/NA=0,8, ШД=1,0 мм | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, ШД=1,0 мм | ● | ● | ||
| Револьвер | Шестиместная револьверная головка с обратным мотором (со слотом DIC) | ● | ● | |
| Конденсатор | Конденсатор LWD NA0.65 | ○ | ● | |
| Пропускаемое освещение | Галогенная лампа 12В/100Вт, освещение по Колеру, с фильтром ND6/ND25 | ○ | ● | |
| Лампа S-LED мощностью 3 Вт, центральная предустановка, регулируемая интенсивность | ○ | ○ | ||
| Отраженное освещение | Отраженный свет Галогенная лампа мощностью 12 Вт/100 Вт, подсветка по Келеру, с 6-позиционной револьверной головкой | ● | ● | |
| 100Вт галогенная лампа для дома | ● | ● | ||
| BМодуль яркого поля F1 | ● | ● | ||
| BМодуль яркого поля F2 | ● | ● | ||
| DМодуль темного поля F | ● | ● | ||
| Bвстроенный фильтр ND6, ND25 и фильтр цветокоррекции | ● | ● | ||
| EФункция СО | EФункция CO с кнопкой ECO | ● | ● | |
| Mмоторизованный контроль | Панель управления насадкой с кнопками. 2 наиболее часто используемых цели можно установить и переключать нажатием зеленой кнопки. Интенсивность света будет автоматически регулироваться после смены цели. | ● | ● | |
| Фокусировка | Низкопозиционная коаксиальная грубая и точная фокусировка, точное деление 1 мкм, диапазон перемещения 35 мм. | ● | ● | |
| Макс.SВысота образца | 76 мм | ● | ||
| 56 мм | ● | |||
| Этап | Двухслойный механический столик размером 210х170 мм; диапазон перемещения 105 ммX105 мм (правая или левая ручка); точность: 1 мм; с твердой окисленной поверхностью для предотвращения истирания, направление Y может быть заблокировано | ● | ● | |
| Держатель пластин: может использоваться для хранения пластин размером 2”, 3”, 4 дюйма. | ○ | ○ | ||
| ДВС-комплект | Комплект DIC для отраженного освещения (can может использоваться для объективов с увеличением 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Поляризационный комплект | Pоляризатор для отраженного освещения | ○ | ○ | |
| Анализатор отраженного освещения,0-360°вращающийся | ○ | ○ | ||
| Pоляризатор для проходящего освещения | ○ | |||
| Анализатор проходящего освещения | ○ | |||
| Другие аксессуары | Адаптер C-mount 0,5X | ○ | ○ | |
| 1X адаптер C-mount | ○ | ○ | ||
| Пылезащитный чехол | ● | ● | ||
| Шнур питания | ● | ● | ||
| Калибровочный слайд 0,01 мм | ○ | ○ | ||
| Пресс для образцов | ○ | ○ | ||
Примечание: ● Стандартный наряд, ○ Необязательный.
Сертификат
Логистика
Исследовательский вертикальный металлургический микроскоп BS-6025
